光學薄膜/光阻測量儀

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通過分析光如何從薄膜反射來測量薄膜厚度。通過分析肉眼看不見的光譜我們能測量幾乎所有超過100原子厚度的非金屬薄膜。因為不涉及任何移動設(shè)備，幾秒鐘之內(nèi)就能測出：薄膜厚度，折射率，甚至粗燥度！

為工業(yè)界的精英們測量薄膜厚度。 在低價位膜厚測量應(yīng)用上我們的測量系統(tǒng)有最高的占有率。 事實上我們Filmetrics是唯一能夠提供滿足幾乎所有膜厚測量需求的產(chǎn)品。

 

應(yīng)用領(lǐng)域
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CT（可選項）