光學(xué)薄膜/光阻測(cè)量?jī)x

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通過(guò)分析光如何從薄膜反射來(lái)測(cè)量薄膜厚度。通過(guò)分析肉眼看不見(jiàn)的光譜我們能測(cè)量幾乎所有超過(guò)100原子厚度的非金屬薄膜。因?yàn)椴簧婕叭魏我苿?dòng)設(shè)備，幾秒鐘之內(nèi)就能測(cè)出：薄膜厚度，折射率，甚至粗燥度！

為工業(yè)界的精英們測(cè)量薄膜厚度。 在低價(jià)位膜厚測(cè)量應(yīng)用上我們的測(cè)量系統(tǒng)有最高的占有率。 事實(shí)上我們Filmetrics是唯一能夠提供滿足幾乎所有膜厚測(cè)量需求的產(chǎn)品。

 

應(yīng)用領(lǐng)域
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CT（可選項(xiàng)）